Üretici firmalar ürettikleri elektronik kartlarda arızanın hangi kısımda olduğunu hızlı belirlemek için TP (Test Noktaları – Test Point) noktaları belirlerler. Öncelikle bu noktalarda test yapar ve arızanın hangi katmanda olduğunu lokalize ederler. Bu test noktalarını ve görülecek elektronik sinyalleri genellikle son kullanıcılar ile paylaşmazlar. ‘Elektronikte Arıza Bulma ve Giderme Teknikleri-2’ kitabımızın üçüncü bölümünde bu konu detaylı anlatılmış, bu testleri yapabilecek cihaz önerisi ve uygulamalar verilmiştir.
Test noktalarına sahip olan kartlarda test noktalarını kullanabilmek, test noktası olmayanlarda ise sistematik ve akılcı yaklaşımlarla test noktalarını belirleyebilmek elektronik arızanın hızlı ve güvenilir şekilde belirlenmesi için önemlidir.
TP testleri elektronik karta enerji verilerek, yani fonksiyonel şekilde yapılan testler olduğundan arızanın bulunması kesin neticeler vermektedir. Elektronik arıza belirleme konusunda çalışan tecrübeli her test mühendisi şunu bilir; en net ve güvenilir test sonuçları fonksiyonel testlerle görülmektedir.
Elektronik bir kontrol kartı, birden fazla işi yapabilen küçük elektronik devre bloklarının birleşiminden oluşur. Örneğin kart üzerindeki besleme bloğu; 24 VDC giriş gerilim değerini; 12V, 5V, 3,3V DC gibi değerlere dönüştürür. Bu blok analog veya dijital elektronik malzemelerin besleme gerilimlerini elde etmek için kullanır. Bu besleme bloğunun girişinde ve çıkışındaki olması gereken gerilim değerleri doğru ölçülüyor ise, bu blok elektronik malzemeleri sağlamdır ve görevini olması gerektiği gibi yapıyordur. Üreticiler bu testlerin kolayca yapılabilmesi için Test Point (TP) noktaları koyarak bu TP noktalarına TP1, TP2,….TP55 gibi isimler verirler. Üretici sadece kendi teknik departmanı ile bu TP noktalarındaki; elektronik sinyal değerlerini, hangi cihazlar ile ve nasıl ölçülmesi gerektiğini paylaşırlar. Resim 1. ’de Bir elektronik kontrol kartı üzerindeki bazı TP noktaları görülmektedir.

• Üretim sonrası elektronik kartın simüle edilerek (tüm işlemlerini yapacak şekilde çalıştırarak), fonksiyonel test işlemlerini yapmak için.
• Arızalanan elektronik devrelerin test edilip arızalı elektronik malzemelerin veya arızalı blokların belirlenmesinde.
• Devre içi programlanabilen malzemeleri (ICSP veya ISP) JTAG metodu ile TP noktaları sayesinde programlamakta.
• Cihaz ayarlama ve kalibrasyon testlerinin yapılmasında.
• Veri kayıt işlemlerinin yapılmasında.

TP testlerini yapabilmek için birden fazla test cihazına ihtiyaç duyulmaktadır. Bu durum; maliyet, çalışma alanı ve teknik servis masanın büyümesi, birden fazla cihazın bir PC ye bağlanarak çalışması için çok adetli port ihtiyacı gibi sorunları da oluşturmaktadır. Günümüzde test teknolojilerinde kullanılan cihazlar PC’ye bağlanarak çalışır hale geldiğinden öncekilere oran ile ebat olarak küçüldüler. Başarılı ve esnek yazılım destekleri sayesinde de birden fazla işi aynı anda yapabilir hale geldiler.
Bu test cihazları elektronik kartlardaki TP (Test Point-Test Noktası) ‘leri kolayca ölçmeye ve kaydetmeye imkan tanımaktadır. TP noktasındaki sinyaller analog veya dijital çeşitli formlarda olabildiğinden birden fazla test cihazına gerek duymaktadır. Elektronik kartların sağlam çalışanlarından elde edilen TP noktası elektronik sinyalleri, arızalı olan elektronik kartların aynı TP elektronik sinyalleri ile karşılaştırılarak arızalı blok veya malzemeler tespit edilebilir. TP test cihazları PC bağlantılı olduğu için, PC ortamında sağlam elektronik sinyallerin kaydedilmesine, bir test sırası (algoritması) oluşturulmasına, hatta otomatik test yapılabilecek test düzeneklerinin hazırlanmasına da yardımcı olur.
TP noktasına sahip olmayan elektronik kartlarda TP testlerini kendimiz belirleyebiliriz. TP noktası olarak elektronik malzeme bacakları kullanılabilir. Bunun için öncelikle elektronik devre üzerindeki tüm elektronik malzemelerin teknik özellikleri (datasheet) incelenmelidir. Elektronik kart üzerinde bizim tarafımızdan tanımlanmamış, çalışması anlaşılmamış entegre veya malzeme kalmamalıdır. Elektronik devrenin ne iş yaptığı detaylı anlaşılmalıdır. Devreye bağlanan konnektörler, güç bağlantıları ve port bağlantılarından da yararlanılarak devre bloklara ayırılmalıdır. Örneğin; besleme bloğu, ön kuvvetlendirme bloğu, DC motor sürücü bloğu (PWM), LCD-TFT gösterge bloğu, analog-dijital dönüştürücü (ADC) bloğu gibi. Resim 2. ’de bir endüstriyel elektronik kontrol kartı blokları görülmektedir.

Resim 2. Bir kontrol kartı blokları

Bu blokların giriş ve çıkışındaki elektronik sinyallerinin ölçümü bizim tarafımızdan tespit edilmiş elektronik malzeme bacaklarından yapılabilir. Malzeme bacakları bizim belirlediğimiz TP noktaları haline gelmiş olur. Bu noktalardaki sinyallerin ölçümü, hangi blokta arızanın olduğunun belirlenmesini, arızanın bir bloğa kolayca indirgenmesini sağlar. Eğer detaylı bir TP çalışması yapılır ise elektronik malzeme seviyesinde de arıza belirlemesi yapılabilir. Elektronik kartın dijital fotoğrafını alarak malzeme bacaklarında belirlenen TP noktaları üzerlerinde belirtilebilir. Bizden sonra aynı elektronik kartta çalışma yapacak teknik arkadaşların işini kolaylaştırmış oluruz. TP noktalarının işlevinin tanımlanması ve hangi test cihazlarının nasıl kullanıldığının belirtilmesi de çok iyi olacaktır. PC de her kart için bir klasör açılarak, her bir TP noktasındaki sinyalin PC ortamında kaydedilmesi, yani sağlam elektronik karttan alınan sinyal veri bankası oluşturulması çok faydalı olacaktır. Arıza durumunda arıza gidermeyi dakikalar seviyesine indirebilecektir. Özellikle yıl içerisinde çok adetli onarımları veya testleri yapılacak olan elektronik kartlarda TP test metodu sorun çözme süresini kısaltacaktır.
TP testlerinin yapılması için önerdiğimiz cihaz ‘Analog Discovery2’ cihazıdır. Resim 3.’de görülmektedir. Önerimizde en önemli kriterlerimiz; işlevine göre çok ekonomik oluşu, kalitesi, kolay taşınabilme, birçok test cihazını içinde bulundurma (all in one), TP testleri için yeterli teknik özellikleri içerisine entegre cihazlarda bulundurma, TP’lerdeki hemen tüm sinyalleri anlık şekilde gösterebilmesi, kullanışlı ve esnek PC yazılımına sahip olması, tüm sinyal verilerini PC ortamında kaydedip veri bankası hazırlayabilmeye olanak sağlaması, akademik test ve çalışmalarda kabul gören uluslararası kabul gören akredite cihaz olması ve test güvenilirliği. Cihaza bundan sonra kısaca AD-2 denilecektir. AD-2 eğitimciler ve öğrencilere günümüzde mevcut fiyatının yarı bedeline satılmaktadır. Üretici firmanın bu iyi niyetli yaklaşımının takdirimizi aldığını belirtmek isterim. Günümüzdeki cihazların içerisinde bahsettiğimiz avantajları açısından seçimimizi bu cihazdan yana kullandık. Konu ile ilgili örnekleri ve anlatımlarımızı da bu ürün ile yapma kararı verdik. ‘Elektronikte Arıza Bulma ve Giderme Teknikleri-2’ kitabımızın üçüncü bölümünde bu cihazın kullanımını anlatıp, sonrasında TP testlerine yönelik kullanımı ile ilgili uygulamalar yapılmıştır. Elektronik kart arıza belirlemelerinde ve saha testlerinde halen teknik servis ortamımızda başarılı şekilde kullanmaktayız.

Yazar;
Önder ŞİŞER
Elk-Elektronik Yük. Müh.
RE Elektronik Genel Müdürü
onder@reelektronik.com